正常情況下，半導(dǎo)體制冷器在紅外探測(cè)器內(nèi)應(yīng)用主要可以分為兩種類別：第一種就是應(yīng)用單級(jí)半導(dǎo)體制冷器，制冷器處于常溫運(yùn)行，屬于非制冷型焦平面探測(cè)器；第二種就是應(yīng)用多級(jí)半導(dǎo)體制冷器，制冷器處于非常溫狀態(tài)下運(yùn)行，屬于制冷型焦平面探測(cè)器。

  下面由紅外探測(cè)器廠家?guī)覀兙唧w了解一下：

  一、非制冷型焦平面探測(cè)器

  在對(duì)非制冷型焦平面紅外探測(cè)器分析研究上面，美國(guó)、法國(guó)及以色列等國(guó)家一直處于國(guó)際領(lǐng)先地位。為了能夠有效提升平面探測(cè)器運(yùn)行穩(wěn)定性及精確性，大部分國(guó)家基本上采取精密度更高的半導(dǎo)體制冷技術(shù)構(gòu)成電子系統(tǒng)。其中具有代表的產(chǎn)品為美國(guó)hon公司所生產(chǎn)的平面探測(cè)器，該平面探測(cè)器是以溫度敏感效應(yīng)作為基礎(chǔ)原理，借助氧化釩，屬于微測(cè)輻射熱計(jì)焦平面探測(cè)器；以色列在對(duì)平面探測(cè)器分析研究中，最具代表性的為scd公司所研究平面探測(cè)器，具體型號(hào)為320*256微測(cè)輻射熱計(jì)焦平面探測(cè)器，同樣是以溫度敏感效應(yīng)作為基礎(chǔ)原因。在不同類別平面探測(cè)器內(nèi)，都具有相似的特征，就是全部采取單機(jī)半導(dǎo)體制冷器進(jìn)行制冷，并且應(yīng)用精密控溫系統(tǒng)進(jìn)行控制。

  二、制冷型焦平面探測(cè)器

  制冷型焦平面探測(cè)器主要應(yīng)用多級(jí)半導(dǎo)體制冷器，具有最具有代表性的為法國(guó)sof公司所研發(fā)的MCT紅外探測(cè)器。該型號(hào)紅外探測(cè)器在實(shí)際應(yīng)用中，主要是在200k以上平面探測(cè)器組件上，并且也是紅外探測(cè)器技術(shù)在今后發(fā)展建設(shè)中主要發(fā)展趨勢(shì)。該類型紅外探測(cè)器基本上都應(yīng)用四級(jí)半導(dǎo)體制冷器，進(jìn)而可以同時(shí)在多個(gè)溫度點(diǎn)狀態(tài)運(yùn)行，其中常見在200k及250k狀態(tài)下運(yùn)行。紅外探測(cè)器要是在250k狀態(tài)下運(yùn)行，所產(chǎn)生的最高光譜范圍大約為2μm左右，但是要是處于200k狀態(tài)下運(yùn)行，所產(chǎn)生的最高光譜大約為2.5μm。在該型號(hào)紅外探測(cè)器上，法國(guó)sof公司采取mi4040型號(hào)半導(dǎo)體制冷器，在保證紅外探測(cè)器性能情況下，最大程度降低紅外探測(cè)器體積，將紅外探測(cè)器質(zhì)量控制在150g范圍內(nèi)。

  截止到目前為止，多級(jí)半導(dǎo)體制冷器已經(jīng)發(fā)展到六級(jí)半導(dǎo)體制冷器，并且已經(jīng)在紅外探測(cè)器上面應(yīng)用，在紅外探測(cè)器市場(chǎng)內(nèi)進(jìn)行銷售，具有最具有代表性為法國(guó)研發(fā)公司所產(chǎn)生的中波多元紅外探測(cè)器組件。該紅外探測(cè)器組件工作溫度為180k，所能夠承受的負(fù)載必須小于相似探測(cè)器組件負(fù)載，所產(chǎn)生的最高光譜為5μm，主要針對(duì)專用溫度控制系統(tǒng)與六級(jí)半導(dǎo)體制冷器。